测维 高级测量显微镜，CW108JS 售卖规格：1台

• 附件1：仪器配置表：

• 以光学聚焦为测量原理, 采用高精度光学聚焦点检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。可以对极细微的间隙高低差，夹杂物、微米以上的突起、细微划痕进行观察

• 软件特点：

  一、XYZ数据实时显示

  二、能测量12种元素（点、直线、圆、圆弧、椭圆、矩形、槽形、○形环、距离、角度、开云线,闭云线）

  三、具有自动和手动对焦功能

  四、测量方法多样（自动判别测量、采点测量﹐对比测量、公差对比测量。预置元素），可以满足用户不同需求，大大提高使用的方便性和测量精度

  五、单点采集方法有多种﹕可鼠标采点,十字线寻边采点,放大采点

  六、能测量闭合云线的周长，面积及重心，使用三次插值算法，为目前最准测量云线的方法。可以进行框选测量多圆，快速，准确的一次测量多个圆

• 七、测量的数据可以保存为DXF档，或.BMP图片，及用户程序格式

规格参数

CW108JS（Z轴软件控制）

• 三轴测量软件是开发人员结合十余年计量行业及软件工作经验,精心研发的专业的测量软件

• 设计原则是：操作简单,功能强大,稳定可靠,维护方便。主要借鉴了国外知名软件,并结合国内的情况,博采众长,优化组合.精心研制而成

• 适用于硅片、材料腐蚀、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过磨抛、化学处理的工件表面的金相组织结构，几何形状进行显微观测。并且有XYZ三个方向的测量功能，其解析率达0.0005mm。是精密零件，集成电路，半导体芯片，光伏电池，光学材料等行业的适用仪器