平面平晶是如何利用光线进行干涉的？

　　摘要：平面平晶利用光线的干涉原理在波的传播过程中进行全面的介绍，希望能够帮助大家。

　　第一、平面平晶原理：

　　平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如千分尺两测量面的平行度误差.平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为 45～150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为0.03～0.05微米；2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。

　　简单的说就是：光在平晶表面反射和被测表面反射回来的光线形成干涉现象。由于被测表面平面度的影响，干涉光线的光程差不同，因此形成干涉条纹。通过测量干涉条纹的弯曲量并计算可得被测样品的平面度。

　　利用光线的干涉原理，在波的传播过程中，介质中质点的振动虽频率相同，但步调不一致，在波的传播方向上相距△x=（n=0，1，2，…）两个质点的振动步调一致，为同相点；相距（n=0，1，2，…）的两个质点的振动步调相反，为反相点。波源S1、S2产生两列波在同一介质中传播，介质中各质点同时参与两个振源引起的振动。质点的振动为这两个振动的矢量和，介质中的P点，如图离两波源距离分别是S1P、S2P，若S1、S2是同步振动，那么它们对P引起的振动的步调差别完全由距离差△s=S1P－S2P决定。当△s=（n=0，1，2，…），即距离差为波长的整数倍时，两波源在P点引起的振动的步调一致，为同相振动，叠加结果是两数值之和，即振动加强，是强点；当（n=0，1，2，…），即距离差为半波长的奇数倍时，两振源在P点引起的振动的步调相反，为反相振动，叠加结果是两数值之差，即振动减弱，是弱点；由此看来，强点与弱点只与位置有关，不随时间变化。

　　第二、平面平晶测量：

　　测量时，先使平晶边缘轻轻地与被测表面接触，逐渐使整个表面接触，再调整平晶使与被测表面之间保持一微小夹角，直到出现清晰的干涉条纹为止。如干涉条纹很密而调整平晶位置又不能使干涉条纹的间距加宽，则说明被测表面或平晶上有微尘或其他杂物，应清洗。