测头在整个测量机的应用当中发挥着重要作用,因此进行测头的正确选购,通常和进行坐标测量机的选购一样重要。测头分为接触式和非接触式,在目前测量机的应用当中,绝大多数采用接触式测头,接触式测头分为触发测头和扫描测头。
● 触发测头
接触式触发测头采用运动学定位装置,定位装置主要由以下三部分构成(如图1所示):
(1)由弹簧负载的中枢支撑架;
(2)三组轴承点,它们由滚珠和球形轴承组成;
(3)垂直压缩弹簧。
触发信号的基本原理:当中枢支撑架发生位置变化,电流环路会相应发生变化,并会导致测头接口发送一个信号给CMM控制箱。触发信号后,测球要离开被测物并回到其可重复位置上。
图1.运动学定位装置示意图
● 扫描测头
(1) 设计超前,两个传感器置于一体,既能对形状进行高精度扫描测量,也能对工件尺寸和位置进行触发式测量。
(2)自动可重复定位探针交换,不需重新标定。
(3)采用雷尼绍独创的、分离的光学测量技术,独立测量各轴的偏移量。
● 触发测头与扫描测头的区别
类型
用途
特点
触发测头
用来探测有棱有形的或已知几何形状的物体
1、
测量速度快,测头体积小易于接近零件;
2、
灵活多用——适合多种应用、不同的材料和表面特性;
3、
能够检测工件的多项特性;
4、
相对来说,购买及维修成本较低。
扫描测头
用于轮廓或外形的检测
1、
能高速的采集数据;
2、
能够高密度采点,用采集的点数据来精确的描述形状、轮廓;
3、
特别适用于对形状、轮廓有严格要求的零件。
4、
测量更为精确、重复性更好。