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  • 半导体器件分析仪介绍

    文/ 发布于2017-08-11 浏览次数:739

      半导体器件分析仪介绍

    半导体器件分析仪的描述

      半导体器件分析仪是一款用于器件表征的综合解决方案。它支持IV、CV、脉冲IV及快速IV测量,可对器件、材料、半导体、有源/无源元件以及任意电气器件进行各种电气表征和评测。模块化结构可使您根据测试需求随时把仪器升级到10插槽配置。嵌入式Windows 7和功能强大的EasyEXPERT软件借助先进的图形用户界面(GUI),可让您执行高效、数据可恢复的器件表征。Agilent B1500A是唯一一款能够适应多种测量需要的参数分析仪,具备极高的测量可靠性和易于使用的测试环境,可实现高效、数据可恢复的器件表征。

      它支持所有类型的参数测试,从基本的IV和CV扫描到超快速IV和脉冲IV测量等等。数百种即用型程序库(应用测试)可使您非常轻松地立即开始进行复杂测量。仪器的全部操作通过15英寸触摸屏、简单的键盘和鼠标操作来实现。EasyEXPERT软件还提供高效测试环境,支持您在器件表征时采取直观的操作、分析与探测。测试条件和测量数据可以自动保存到工作区内,使您毫不费力地完成器件表征。

      半导体器件分析仪的测量功能

      ·在0.1 fA - 1 A / 0.5μV - 200 V范围内执行精确的电流-电压(IV)测量,支持点测量、扫描测量、采样和脉冲测量

      ·在1 kHz至5 MHz频率范围内执行交流电容测量,支持准静态电容-电压(QS-CV)测量

      ·先进的脉冲IV测量和超快IV测量,最低采样间隔为5 ns(200 MSa/s)

      ·高达40 V的高压脉势,适用于非易失存储器测试

      ·测量模块可升级至10插槽配置

      半导体器件分析仪的工作环境(包含EasyEXPERT)

      ·EasyEXPERT软件(链接至EasyEXPERT)在嵌入式Windows 7中运行

      ·数百种测量程序库在需要时即可使用(应用测试)

      ·15英寸触摸屏支持您在器件表征时采取直观的操作、分析与探测

      ·自动数据记录功能支持测试数据和测试条件的恢复,可使您轻松地进行探测

      ·利用曲线追踪(旋钮操作)和自动记录特性来实现实时交互表征

      ·利用便捷的在线/离线测试环境完成测试开发与分析(台式EasyEXPERT),从而最大限度地发挥仪器效用

     

       半导体器件分析仪的主要特性:

      ·支持所有类型的参数测试,从基本的IV和CV扫描到超快速IV和脉冲IV测量等等

      ·数百种测量程序库在需要时即可使用(应用测试)

      ·个性化工作区和测试数据自动记录特性便于您进行器件探测,无需考虑数据文件管理

      ·适用于数据分析和记录的图形显示/分析/打印功能

      ·利用曲线追踪(旋钮操作)和自动记录特性来实现实时交互表征

      ·借助Quick Test工具,无需编程即可排列测试顺序

      ·EasyEXPERT典型测试模式提供Agilent 4155/4156参数分析仪的外面、风格和术语

      ·导入/导出器件定义、测量设置、常用设置、测量数据和应用程序库

      ·基于GUI的开关矩阵控制面板

      ·自测、自校准、故障诊断

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