飞行时间二次离子质谱

西域库存号：

L3120353    

产品名称：

飞行时间二次离子质谱

产品简述：

EHSY西域品质提供的飞行时间二次离子质谱性能卓越,能满足您不同工作环境的多种需求。
二次离子质谱（Secondary Ions Mass Spectrum 简称SIMS）采用质谱技术分析表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。它的分析原理非常容易理解：将需要分析的样品放置在真空中，用被称为“一次离子”的高能量离子轰击样品表面，入射离子穿透样品表面并引发表面原子互相撞击，撞击导致表面上的分子和原子脱离表面并离子化，然后这种从表面上脱离的“二次离子”被质谱仪收集并分析，从而得到样品表面的化学组成情况。同时，随着入射离子时间的延长，表面原子层会被逐渐剥蚀，根据分析时间和离子强度建立的坐标，可以得到某种离子随表面深度的变化其浓度变化情况。
Mini SIMS为用户提供了一些其他表面分析技术所不具备的性能。
1、样品在高真空下得到的样品表层真实信息，在静态分析条件下信息仅来自表面层，而动态分析时信息仅来自几个原子层。
2、可分析质量数范围3-300的全部元素，包括锂、铍、硼等轻质量元素。
3、可对元素同位素进行检测，用于同位素分析或利用同位素提供的信息。
4、SIMS是一种“软电离”手段，通过对碎片离子峰分析，从而确定表面化合物的结构。
5、通过入射离子束的扫描或直接成像，实现微区面分析，具有高空间分辨能力。
6、聚焦入射离子束对表面进行剥离，可以实现对十个成分的跟踪分析，达到三维微区分析的目的。
7、SIMS是一种质谱技术，是检测特定核质比离子的分析技术，它的本底噪音低于电子能谱。可检测正负二次离子，从而具有极高的灵敏度，可以达到10-6甚至更低，是所有表面分析方法中灵敏度最高的一种分析手段，具有很宽的动态范围。
Mini SIMS是一台极其稳定、经济实用、维护简单、能够迅速完成分析任务并对图谱进行解释的多功能全自动操作二次离子质谱分析仪器。它为科学研究人员和质量控制人员提供了可靠的表面、界面及表面下一定范围内的元素分析数据，已经为表面涂层、腐蚀与防腐蚀、离子注入表面改性、表面处理、电子器件、生物医学材料、半导体、包装材料、腐蚀磨损研究、润滑剂、催化剂、黏结剂、材料表面改性、考古、文物保护、食品保存、核燃料等多个领域所应用。

作为众多知名品牌的合作伙伴，EHSY西域以其优良的品质和服务来保证阁下员工的职业健康，安全环境和美好未来。

备       注  ：

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