XS超越系列专业型分析天平价格|参数|规格|资料-分析天平|光学读数分析天平|万分之一分析天平|电子分析天平|光学分析天平--EHSY西域品质提供

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XS超越系列专业型分析天平

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西域库存号：

L222012 L222015

产品名称：

XS超越系列专业型分析天平

产品简述：

EHSY Lab品质提供的分析天平性能卓越,能满足您不同工作环境的多种需求．

超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操

作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求，确保更

高的生产效率并使操作更安全。

*采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果

*全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码

实现线性误差校准，确保称量结果的准确性

*变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对

不同样品的称量需求

*革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获

得快速、稳定的称量结果

*易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量

*触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置

*可移动的显示控制终端，方便天平使用

*完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁

*内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备

*优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

*具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

*e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新

作为众多知名品牌的合作伙伴，EHSY Lab以其优良的品质和服务来保证阁下

员工的职业健康，安全环境和美好未来。

备注 ：

产品报价包含17%增值税，但不包含国内配送运费。

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分析天平 光学读数分析天平 万分之一分析天平 电子分析天平 光学分析天平

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技术指标

价格(RMB)

L222012

XS超越系列专业型分析天平；量程：双量程；可读性：0.01/0.1mg；最大称量值： 81/220g；最大称量值重复性(s)：0.1mg； 10g重复性(s)：0.02mg；线性：±0.2mg； 1/2最大称量1）四角误差：0.3mg；灵敏度漂移：0.0004%；灵敏度温度漂移2）：0.00015%/℃；灵敏度稳定性3）：0.0002%/a；典型称量时间4）：6s；接口更新速率：23/s；防风罩有效高度(mm)：235；秤盘尺寸(mm)：78×73；天平外形尺寸(W×D×H)(mm)：263×453×322； 1）按照OIML76标准 2）温度范围10 …30℃ 3）灵敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自动校准技术 4）包括样品处理时间设置；品牌：METTLER

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L222015

XS超越系列专业型分析天平；量程：双量程；可读性：0.01/0.1mg；最大称量值：41/120g；最大称量值重复性(s)：0.1mg； 10g重复性(s)：0.02mg；线性：±0.2mg； 1/2最大称量1）四角误差： 0.3mg；灵敏度漂移：0.0004%；灵敏度温度漂移2）：0.00015%/℃；灵敏度稳定性3）： 0.0002%/a；典型称量时间4）：6s；接口更新速率：23/s；防风罩有效高度(mm)：235；秤盘尺寸(mm)：78×73；天平外形尺寸(W×D×H)(mm)：263×453×322； 1）按照OIML76标准 2）温度范围10 …30℃ 3）灵敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自动校准技术 4）包括样品处理时间设置；品牌：METTLER

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METTLER TOLEDO/梅特勒-托利多

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METTLER TOLEDO/梅特勒-托利多

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XS205DU

XS105DU

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METTLER TOLEDO/梅特勒-托利多

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XS4001

XS6001

XS8001

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METTLER TOLEDO/梅特勒-托利多

制造商型号:

XS603S

XS603SDR

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精密天平 METTLER天平分析天平天平

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EHSY LAB品质提供的高精密电子天平性能卓越,能满足您不同工作环境的多种需求．产品特点： 1.高分辨率 2.自动校准 3.全称量除皮 4.单位转换 5.标...

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EHSY Lab品质提供的通用型天平性能卓越,能满足您不同工作环境的多种需求．产品特点：中文操作面板－使操作更加简单便捷；前置式水平调节泡－方便操作者...

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