| 技 术 资 源： |
现在位置：产品 >>> 量具、计量、测绘仪器
>>> 测厚仪器
>>> 涂层测厚仪
>>> 铁基涂层测厚仪
| 涂层测厚仪测量原理 |
1. 磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。 2.涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。 |
