DC耐压测试通常会需要加上缓升时间以及放电时间，因为大多的DUT具有电容性而会导致充电电流产生。为了使充电变位电流(charge current)稳定，需要缓升时间来缓冲，才不会因充电电流而导致漏电流过高，进而判断为不良品(FAIL)。