触发测头与扫描测头的区别

文/ 发布于2017-09-06 浏览次数:778

  测头在整个测量机的应用当中发挥着重要作用,因此进行测头的正确选购,通常和进行坐标测量机的选购一样重要。测头分为接触式和非接触式,在目前测量机的应用当中,绝大多数采用接触式测头,接触式测头分为触发测头和扫描测头。

  ● 触发测头

  接触式触发测头采用运动学定位装置,定位装置主要由以下三部分构成(如图1所示):

  (1)由弹簧负载的中枢支撑架;

  (2)三组轴承点,它们由滚珠和球形轴承组成;

  (3)垂直压缩弹簧。

  触发信号的基本原理:当中枢支撑架发生位置变化,电流环路会相应发生变化,并会导致测头接口发送一个信号给CMM控制箱。触发信号后,测球要离开被测物并回到其可重复位置上。

  图1.运动学定位装置示意图

  ● 扫描测头

  (1) 设计超前,两个传感器置于一体,既能对形状进行高精度扫描测量,也能对工件尺寸和位置进行触发式测量。

  (2)自动可重复定位探针交换,不需重新标定。

  (3)采用雷尼绍独创的、分离的光学测量技术,独立测量各轴的偏移量。

  ● 触发测头与扫描测头的区别

  类型

  用途

  特点

  触发测头

  用来探测有棱有形的或已知几何形状的物体

  1、

  测量速度快,测头体积小易于接近零件;

  2、

  灵活多用——适合多种应用、不同的材料和表面特性;

  3、

  能够检测工件的多项特性;

  4、

  相对来说,购买及维修成本较低。

  扫描测头

  用于轮廓或外形的检测

  1、

  能高速的采集数据;

  2、

  能够高密度采点,用采集的点数据来精确的描述形状、轮廓;

  3、

  特别适用于对形状、轮廓有严格要求的零件。

  4、

  测量更为精确、重复性更好。

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