触发测头与扫描测头的区别

　　测头在整个测量机的应用当中发挥着重要作用，因此进行测头的正确选购，通常和进行坐标测量机的选购一样重要。测头分为接触式和非接触式，在目前测量机的应用当中，绝大多数采用接触式测头，接触式测头分为触发测头和扫描测头。

　　● 触发测头

　　接触式触发测头采用运动学定位装置，定位装置主要由以下三部分构成（如图1所示）：

　　(1)由弹簧负载的中枢支撑架；

　　(2)三组轴承点，它们由滚珠和球形轴承组成；

　　(3)垂直压缩弹簧。

　　触发信号的基本原理：当中枢支撑架发生位置变化，电流环路会相应发生变化，并会导致测头接口发送一个信号给CMM控制箱。触发信号后，测球要离开被测物并回到其可重复位置上。

　　图1.运动学定位装置示意图

　　● 扫描测头

　　(1) 设计超前，两个传感器置于一体，既能对形状进行高精度扫描测量，也能对工件尺寸和位置进行触发式测量。

　　(2)自动可重复定位探针交换，不需重新标定。

　　(3)采用雷尼绍独创的、分离的光学测量技术，独立测量各轴的偏移量。

　　● 触发测头与扫描测头的区别

　　类型

　　用途

　　特点

　　触发测头

　　用来探测有棱有形的或已知几何形状的物体

　　1、

　　测量速度快，测头体积小易于接近零件；

　　2、

　　灵活多用——适合多种应用、不同的材料和表面特性；

　　3、

　　能够检测工件的多项特性；

　　4、

　　相对来说，购买及维修成本较低。

　　扫描测头

　　用于轮廓或外形的检测

　　1、

　　能高速的采集数据；

　　2、

　　能够高密度采点，用采集的点数据来精确的描述形状、轮廓；

　　3、

　　特别适用于对形状、轮廓有严格要求的零件。

　　4、

　　测量更为精确、重复性更好。